超高光通量X射线吸收精细结构谱仪

将同步辐射装置“搬进"实验室 

超高光通量X射线吸收精细结构谱仪优势 

数据可靠：数据与同步辐射高度一致 

能量范围：4.5-15keV,可扩展至20keV 

测试元素：实现3d,5d,稀土元素过渡金属测试 

自主可控：90%部件自主可控，无政策风险

 高产出：在一年时间内帮助客户发表高档次论文一百二十多篇 

高性能：1小时内完成1%含量样品测试 

高光通量：>2,000,000 photons/sec@8keV 

简单易用：只需半天培训即可上机操作 

低维护成本：无需专人维护、操作、管理等 

超高光通量X射线吸收精细结构谱仪原理 

X射线吸收精细结构(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)也叫X射线吸收谱(X-ray Absorption Spectroscopy,XAS),是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热们领域。 

RapidXAFS采用独特的Johann型罗兰圆单色器设计，无需同步辐射光源，从点光源发射的X射线满足Bragg方程并发生衍射重新汇聚于罗兰圆的探测器处，通过改变Bragg角度获得不同能量的单色光，从而实现在常规实验室中进行高质量的XAFS测试。 

XAFS谱： 

X射线吸收近边结构(XANES) 

扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 

EXAFS 

能量范围大概在吸收边后50eV到1000eV,来源于X射线激发出来的内层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子单次散射效应的结果。 

XANES 

吸收边前约10eV至吸收边后约50eV的范围，其主要来源于X射线激发出的内壳层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子多重散射效应。